TDR測試中如何設(shè)置測試頻率？

在TDR測試中，設(shè)置測試頻率是確保測量準確性和有效性的關(guān)鍵步驟。以下是詳細的設(shè)置步驟和注意事項：

1. 確認設(shè)備支持TDR功能：首先，確保所使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀（如Keysight E5071C）已啟用TDR功能，并支持頻域到時域轉(zhuǎn)換（IFT）。

   
   

2. 連接被測器件（DUT）：使用同軸電纜將被測器件（如電纜、PCB走線）連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口，并根據(jù)需要端接（開路、短路或匹配負載）。

   
   

3. 設(shè)置儀器參數(shù)：

   • 切換時域模式：進入分析模式，選擇時域而不是頻域。對于TDR測試，通常選擇低通模式，因為它適用于階躍或脈沖響應(yīng)。
   • 設(shè)置時間窗口：調(diào)整Start/Stop Time，確保覆蓋DUT的長度。例如，測量1米電纜時，時間窗口可設(shè)為0-10ns。
   • 設(shè)置激勵帶寬：設(shè)置最大頻率以提高時間分辨率。例如，設(shè)置最大頻率為10GHz，分辨率約為1/(2×帶寬)。

4. 校準儀器：執(zhí)行全雙端口校準（如SOLT：Short-Open-Load-Thru），并驗證頻域S參數(shù)的準確性。時域校準補償（可選）可用于消除測試夾具的影響。

   
   

5. 進行TDR測量：

   • 觸發(fā)設(shè)置：選擇內(nèi)部觸發(fā)，無需外部信號。
   • 測量S11反射系數(shù)：切換到S11單端口測量模式，觀察時域波形，定位阻抗不連續(xù)點。
   • 阻抗計算：通過反射系數(shù)計算阻抗，公式為：Z=Z0（1+Γ/1-Γ），其中Z0為參考阻抗（默認50Ω）。

6. 分析結(jié)果：識別故障點，測量距離，并使用時域門控功能隔離特定區(qū)域的響應(yīng)。

   
   

7. 保存與導(dǎo)出數(shù)據(jù)：保存波形圖像，并導(dǎo)出時域數(shù)據(jù)用于進一步分析