OTA測(cè)試暗箱的測(cè)試方法有哪些呢

OTA測(cè)試暗箱的測(cè)試方法主要包括無(wú)源測(cè)試和有源測(cè)試兩種。

無(wú)源測(cè)試

無(wú)源測(cè)試主要關(guān)注無(wú)線通信設(shè)備天線的輻射參數(shù)，如增益、效率、方向圖等，以評(píng)估天線的輻射性能。這種測(cè)試方法雖然考慮了整機(jī)環(huán)境（如天線周?chē)骷?、開(kāi)蓋和閉蓋）對(duì)天線性能的影響，但無(wú)法直接反映設(shè)備整機(jī)在無(wú)線通信環(huán)境中的實(shí)際性能。具體來(lái)說(shuō)，無(wú)源測(cè)試通過(guò)測(cè)量天線在不同方向上的輻射強(qiáng)度，來(lái)評(píng)估天線的方向性和增益等性能。然而，由于天線與整機(jī)配合后的最終輻射發(fā)射功率和接收靈敏度無(wú)法直接通過(guò)無(wú)源測(cè)試得知，因此這種測(cè)試方法的數(shù)據(jù)相對(duì)不夠直觀。

有源測(cè)試

有源測(cè)試則更加直接地反映了無(wú)線通信設(shè)備整機(jī)的輻射性能。它是在特定的微波暗室中進(jìn)行的，通過(guò)測(cè)試整機(jī)在三維空間各個(gè)方向的發(fā)射功率和接收靈敏度來(lái)評(píng)估設(shè)備的輻射性能。這種測(cè)試方法能夠更全面地模擬真實(shí)的無(wú)線通信環(huán)境，從而更準(zhǔn)確地評(píng)估設(shè)備在實(shí)際使用中的性能表現(xiàn)。

在有源測(cè)試中，通常需要使用高精度的測(cè)量設(shè)備（如功率計(jì)、頻譜分析儀等）來(lái)精確測(cè)量設(shè)備的發(fā)射功率和接收靈敏度等關(guān)鍵性能指標(biāo)。同時(shí)，還需要根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和范圍制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃，包括測(cè)試內(nèi)容、時(shí)間安排、資源需求等。測(cè)試過(guò)程中，需要確保測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性和可靠性，以避免環(huán)境因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

測(cè)試步驟

無(wú)論是無(wú)源測(cè)試還是有源測(cè)試，OTA測(cè)試暗箱的測(cè)試步驟通常都包括以下幾個(gè)階段：

1. 確定測(cè)試目標(biāo)：明確測(cè)試的范圍和目的，選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和參數(shù)。
2. 環(huán)境準(zhǔn)備：搭建測(cè)試環(huán)境，包括微波暗室、測(cè)試設(shè)備等，確保測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性和可靠性。
3. 制定測(cè)試計(jì)劃：根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和范圍制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃。
4. 設(shè)計(jì)測(cè)試用例：根據(jù)測(cè)試計(jì)劃設(shè)計(jì)測(cè)試用例，覆蓋各種測(cè)試場(chǎng)景和條件。
5. 執(zhí)行測(cè)試用例：按照設(shè)計(jì)的測(cè)試用例執(zhí)行測(cè)試，記錄測(cè)試結(jié)果和問(wèn)題。
6. 分析測(cè)試結(jié)果：根據(jù)測(cè)試結(jié)果分析問(wèn)題的原因和影響，提出改進(jìn)和優(yōu)化建議。
7. 編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告：根據(jù)測(cè)試結(jié)果和測(cè)試過(guò)程編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告。

綜上所述，OTA測(cè)試暗箱的測(cè)試方法包括無(wú)源測(cè)試和有源測(cè)試兩種，其中有源測(cè)試更加直接地反映了無(wú)線通信設(shè)備整機(jī)的輻射性能。在測(cè)試過(guò)程中需要確保測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性和可靠性，并根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和范圍制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試用例。