光時(shí)域反射儀（OTDR）的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要涉及測(cè)試項(xiàng)目、衰減系數(shù)、接頭損耗等關(guān)鍵參數(shù)。以下是一些具體的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試項(xiàng)目
- 光纖后向散射信號(hào)曲線：用于分析光纖的整體性能。
- 光纖長(zhǎng)度：測(cè)量光纖的總長(zhǎng)度。
- 光纖總衰耗：計(jì)算光纖在傳輸過程中的總能量損失。
- 光纖平均衰耗：計(jì)算光纖每單位長(zhǎng)度的平均能量損失。
- 光纖接頭損耗（插損）：測(cè)量光纖接頭處的能量損失。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
- G.652光纖衰減系數(shù)：
- 1310nm波長(zhǎng)：≦0.38dB/Km
- 1550nm波長(zhǎng)：≦0.24dB/Km
- G.652光纖接頭衰減：
- 單向：≦0.12Db
- 雙向平均：≦0.08Db國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 61746-2:2010：提供了關(guān)于光時(shí)域反射儀（OTDR）的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，特別是針對(duì)多模光纖的校準(zhǔn)。
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
- JJG 959-2024：光時(shí)域反射計(jì)檢定規(guī)程，適用于單模和多模光時(shí)域反射計(jì)（OTDR）的首次檢定和后續(xù)檢定。
通過遵循上述測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，可以確保光時(shí)域反射儀的測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠，從而為光纖通信系統(tǒng)的正常運(yùn)行和維護(hù)提供有力的支持。
